端子線束加工場家：低電阻丈量注重事項

采納恒流源丈量方法，R1以及R2為導(dǎo)線電阻，R3與R4為測試件與丈量儀器之間的接觸電阻（通常是測試夾、測試針），現(xiàn)實丈量電阻值為R1+R2+R3+R4+Rx的總以及；

在丈量歐姆級以上電阻時，Rx弘遠(yuǎn)于R1-R4，接觸電阻與線阻可以疏忽不計；R1-R4通例值為10mΩ-200mΩ之間，在丈量mΩ電阻時此部門不克不及疏忽，必要想法子解除。

在一般的丈量體系中，丈量職員可以經(jīng)由過程加粗導(dǎo)線，下降導(dǎo)線長度的方法減小R1以及R2，或者清零的方法解除R1以及R2；使用加粗測試針，加年夜接觸面積減小R3以及R4；可以知足一般體系的要求（此時默許R1R2不變，現(xiàn)實使用若經(jīng)由過程測試電路較年夜如0.1A以上，會造成導(dǎo)線發(fā)燒R1R2變革年夜，從而緊張影響丈量精度）。

二線制丈量方法簡略，接線也簡潔，容易理解；現(xiàn)實即便依照上述方法解除R1-R4也會常常泛起丈量犯錯的環(huán)境，常見的兩種丈量犯錯以下： 

一、測試針不不亂致使的測試成效不不亂

一個常見的測試針如上圖所示，由針芯，彈簧，針筒組成；理論測試環(huán)境下，電流顛末針芯，彈簧，針筒流向測試導(dǎo)線，測試針的電阻由這三者構(gòu)成，一般20-150mΩ不等，理論上為固定值；

現(xiàn)實丈量時，因為測試針角度，受力標(biāo)的目的，產(chǎn)物位置等身分影響，會造成針芯與針筒直接接觸，并且接觸的接觸面積每一次紛歧樣（不不亂），造成接觸電阻的不不亂，終極浮現(xiàn)為統(tǒng)一產(chǎn)物測試屢次電阻值偏差年夜，有時OK有時NG，現(xiàn)實在使用現(xiàn)場有泛起偏差100mΩ以上的環(huán)境，即便浮現(xiàn)好，偏差也有10mΩ泛起。

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